Hysitron TS77Select 纳米压痕仪是一款可靠的定量表征设备。TS77Selec产自动台式纳米力学和纳米摩擦测试系统，提供了同级别仪器中高的测试性能、功能性和易用性。基千布鲁克zhu名的Triboscop铲电容式传感器技术，这套新的测试系统支持从纳米到微米尺度的可靠的力学和摩擦学表征。TSSelect具有极高的性价比，提供众多性能优异的测试模块，包括定量纳米压痕、动态纳米压痕、纳米划痕、纳米磨损和高分辨力学性能成像功能。

Hysitron TSSelect Testing Modes 纳米压痕高精度力学表征 纳米压痕是一种常见的技术，用于表征局部微结构、界面和表面微结构以及薄膜的弹性模量、硬度、蠕变、应力松弛和断裂韧性。采用布鲁克的Hysitron Tiboscope电容式传感器技术，TSSelect支持纳米到微米尺度范围内的可靠力学性能测量。力学性能成像能够以比传统纳米压痕测试快180倍的高速进行数据采集。这意味着在几分钟内可以获得非均相材料的高分辨率力学性能图像。同时，高速测试还可以快速采集和统计分析大量的测试数据，从而提高测试结果的可信度。

原位SPM成像实现的纳米力学 布鲁克原位扫描探针显微技术(SPM)利用纳米力学测试的压头扫描样品表面，从而实现表面形貌成像。不同尺度下的力学测试和形貌扫描可以确保纳米力学表征结果的准确性和可靠性。原位SPM成像可以实现纳米尺度的精确定位，确保力学测试在材料上指定的位置进行。

磨损测试定量纳米尺度耐磨性能 利用TSSelect的SPM原位扫描成像技术，可以精确测量磨损量和磨损率随接触力、滑动速度和磨损次数的变化。得益于宽泛的空间测量范围，TSSelect可以轻松实现局部微观结构、界面和薄膜的摩擦性能测试。

TSSelect控制软件简化的系统操作和数据分析 布鲁克丁SSelect的控制和分析软件包专门针对测试过程进行了精简优化。优化内容涵盖了样品加载、测试设置、测试执行和数据分析。TSSelect控制软件集成了自动化样品测试和仪器校准程序，来实现简单、快速和无误的表征。

Hysitron TSSelectOptions 动态纳米压痕纳米划痕 动态纳米压痕通过在准静态力上加上一个小的振荡力来实现材料表面硬度和模量随深度变化的连续测量。利用针对动态测试优化的电容传感器和一个集成的锁相放大器，动态纳米压痕非常适用于表征力学性能与测试深度、频率和时间的关系。而纳米划痕则利用静电驱动的二维传感器来精确控制法向力，同时测量探针移动所需的横向力。由于其横向位移不依赖于电动样品台，纳米划痕提供了市场上最灵敏和最可靠的纳米尺度摩擦和薄膜粘附力的测量手段。

仅供参考。

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