Fluorolog-QM代表了HORIBA在荧光行业的超过50年先进经验，生产出了高水平和功能多样的荧光光谱仪。相较于其他科研级荧光光谱仪，Fluorolog-QM具有全波长范围内卓越的反射性能，以及众多的光源和检测器选择方案。全套寿命技术扩展了寿命测试波长范围至5500nm，以及提供了显微镜、X射线、低温量子产率、偏振、远程测试、变温高温等多种附件选择方案。Fluorolog-QM为荧光测试提供了无与伦比的高灵敏度和无限拓展性。 “仪器性能、通用性及操作便捷性的飞跃提升” 反射式光路设计，保证全波长范围准确聚焦，无需调整光路，性能全优化，这是高灵敏度的保证。具备优势的杂散光抑制比，像差校正长焦长单色仪（单级：350mm，双级：700mm）。配备专业分析软件，满足所有稳态和寿命测试需求，具有多种新型寿命拟合功能。扩展波长范围，光路由气氛保护，保证深紫外到近红外区域的检测。另外，它还可以同时连接4种光源和6个检测器，且全部由电脑控制，实现多功能测试。Fluorolog-QM还具有可插拔式的100MHz脉冲光源，强化了TCSPC寿命功能。最后，近红外稳态和磷光寿命检测波长可达5500nm。 l 超过40 年的TCSPC 研发和生产经验 l 100MHz 操作系统，实现毫秒内完成采集 l 根据寿命测试时间范围，软件自动控制脉冲光源频率 l TCSPC 寿命测试范围从5ps到s l FelixFL 软件包实现稳/瞬态采集 l 可测量TCSPC寿命、时间分辨各向异性和时间分辨发射光谱（TRES） l 超过60 个先进的脉冲LED 和脉冲激光可供选择 l 配合HORIBA倍频器，扩展皮秒超连续激光器的多用途—研究蛋白时间分辨的强大工具 l 寿命衰减曲线分析包具有多种拟合模型，包括最大熵法(MEM)寿命分布程序 近红外解决方案（适合热点研究应用：稀土、量子点、AIE、近红外二区探针等） SSTD磷光检测模式是所有Fluorolog-QM系统的标配功能，为近红外样品的近红外发光研究提供解决方案。 SSTD测试速度比传统的MCS技术快8倍，并且不受检测器类型限制（MCS技术只能配合PMT检测器），从而扩展寿命检测范围至5500nm。Fluorolog-QM可配备多个光源和检测器，以覆盖最宽波长范围的稳态光谱，荧光和磷光寿命测试需求。可参考以下配置: l 配置R928PMT、NIRPMT（H0330或R5509-73市场主流型号）、InGaAs和InSb检测器的双发射单色仪覆盖范围从185nm到5500nm l 用于稳态光谱的连续氙灯 l 20HzQ调制开关/OPO激光器，用于210nm到2200nm的可调激发 l 180nm到5500nm的稳态光谱 l 单脉冲实时采集技术(SSTD)用于测量从185nm到5500nm范围内的磷光衰减多种近红外荧光测试解决方案NIRPMT检测器 NIRPMT检测器具有超高灵敏度，同时适用于稳态和TCSPC寿命测量，目前TCSPC电子设备是获得皮秒到纳秒荧光寿命的选择选择。4款NIRPMT，满足宽光谱覆盖范围 l 300~1400nm，液氮制冷 l 300~1700nm，液氮制冷 l 950~1400nm，电制冷 l 950~1700nm，电制冷 固态光电二极管近红外检测器HORIBA可提供多种光电二极管，包含LN制冷，检测范围可扩展至5500nm。 l InGaAs:800~1700nm/1900/2100/2600nm l InAs:1000~3450nm l InSb:1500~5500nmNIR寿命测量波长范围可达5500nm!以上列出所有检测器均可在单脉冲磷光(SSTD)模式中用于NIR发光寿命测量，寿命测量范围可从1微秒至秒。SSTD技术具有超快检测速度和超高的信噪比: l 可调超高频闪烁氙灯，用于荧光寿命测试 l 第三方脉冲Q调制激光器 l 相较于NIRPMT，固态近红外检测器提供更高性价比的磷光检测方案。强大的FelixFL软件Fluorolog-QM荧光光谱仪集成FelixFL软件，实现仪器硬件和附件控制。FelixFL作为新型软件平台，界面友好，操作简单，可用于所有稳态及时间相关光谱的采集和分析。通过USB接口连接，FelixFL即可拥有全套数据采集支持，实现控制所有系统配置和运行多种操作模式。高级运算FelixFL软件提供多种定制化功能，包括量子产率、吸收、FRET，色坐标计算，以及单壁碳纳米管结构参数等。这对扩展（例如积分球和吸收附件）数据分析非常方便，并且对于一些荧光应用也不可或缺，例如分子间相互作用（FRET）和材料表征单壁碳纳米管结构计算
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