X荧光光谱仪是一种先进的分析检测仪器，随着半导体微电子技术和计算机技术的快速发展，传统的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式已经转化成光、机、电、算一体化、自动化的结构，并朝着智能化、小型化、在线化及仪器联用方向发展。我公司根据已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术，并结合国外相关新的技术发展成果，研制出了具有自主知识产权的EDX 3600K型X荧光光谱仪。
EDX 3600KX荧光光谱仪的主要亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔。产品已通过了江苏省计量科学研究院的检测，并获得中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定，技术达到国际先进水平。
该设备专为粉末冶炼行业研发，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼（铜矿、铅矿等）、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉末冶金分析行业、石油勘探录井分析领域，同时也在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中得到广泛应用。
该设备具有超低能量分辨率，采用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率低到139eV，各项指标优于国家标准。 SDD探测器能够对Si、S、Al等轻元素进行测试，具有很好的分析精度。
此外，设备测试精度更高，检出限更低，分析速度更快，一键式智能化操作，强大的自动化功能，强度校正法，完善的光路系统，三重安全防护功能和安全警示系统等。其技术参数、性能优势等详情请参照右侧详细介绍。具备多样的测试模式和无限的自由添加模式，内置强度校正方法，能够校正不同几何状态和结构密度不均匀的样品所造成的偏差。全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，适用范围更加广泛。