X荧光光谱仪能散型XRF天瑞仪器
价格:面议

X荧光光谱仪能散型XRF天瑞仪器

产品属性

  • 品牌天瑞仪器
  • 产地江苏
  • 型号EDX3600L
  • 关注度0
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产品描述
仪器介绍
我公司生产的EDX3600L型仪器,采用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测机构提供的标准陶瓷片样品进行仪器标定,一次性分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成分含量。同时,依据中国古陶瓷数据库进行对照,达到断代断源的效果。此外,我们特别为了更好地利用X荧光分析仪器的无损测量特性,根据行业需求制作了超大型抽真空样品腔,以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。
EDX3600L型仪器在测试陶瓷的同时也可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化学成分和金属镀层厚度,实现一机多用,是古文物检测必备的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏机构都是其用户。技术指标
产品名称:SkyrayX荧光光谱仪
型号:EDX3600L
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:可以同时分析30种以上元素
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.01微米
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
输入电压:AC110V/220V
消耗功率:200W
环境温度:15-26℃
相对湿度:≤70%
标准配置
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力
25倍可自动切换型准直器和滤光片
光路增强系统
内置高清晰摄像头加强的金属元素感度分析器
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
面光源放大电路高低压电源X光管多变量非线性回归程序相互独立的基体效应校正模型。
三重安全保护模式外观尺寸:800×710×1360mm
样品腔尺寸:600×600×1000mm
重量:280kg
应用领域
古陶瓷
古青铜器
古首饰
镀层测厚

江苏天瑞仪器股份有限公司

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