拉曼-电子显微镜联用系统使您能够在单一系统内全面地原位表征样品性能。雷尼绍结构与化学成分分析仪（SCA）接口使（SEM）具有了inVia的拉曼分析能力。

inVia和SCA接口提供了一种SEM内的分析技术，既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱，又克服了X射线能量散射谱（EDS）作为传统SEM内的分析技术的局限性。采用雷尼绍SEM-拉曼联用系统，您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。

联用系统优势：

1. 原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域。

2. inVia和SEM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。

3. 得到丰富的样品信息。使用SEM记录样品的高分辨图像，并进行元素分析。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。

4. 还可进行光致发光（PL）和阴极射线发光（CL）光谱测试。

选择zei好的系统：

雷尼绍SCA接口具有非常高的普适性，可以配备到您现有的SEM上，基本不需要对SEM进行改装。SCA可以安装到所有主要供应商提供的SEM上，包括：

• Zeiss

• FEI

• TESCAN

• JEOL

• Hitachi