产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统，是专门针对低微材料光电测试而设计的。系统功能齐全，可进行多种重要参数的测试。该系统集成了高精度光谱扫描、光电流扫描和光响应速率测试。通过40μm的探测光斑，可实现对百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性的光源支持长时间连续测试，丰富的光源选择和多层光学光路设计，可扩展多路光源，如超连续白光激光器、皮秒脉冲激光器、半导体激光器、卤素灯和氙灯等，以满足不同探测器测试功能的需求。DSR300微纳器件光谱响应度测试系统的功能包括光谱响应度、外量子效率、单色光/变功率IV、不同辐照度下的IT曲线（分辨率200ms）、不同偏压下的IT曲线、LBIC、Mapping、线性度测试和响应速率测试。主要技术参数包括三维可调高稳定探针台结构，便于样品位置调节，以及测试功能曲线。