产品概述DSR300微纳器件光谱响应度测试系统专门用于低微材料光电测试。系统功能全面，可进行多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描和光响应速率测试。探测光斑为40μm，可实现对百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，以满足不同探测器测试功能的要求，是微纳器件研究的优选。
DSR300微纳器件光谱响应度测试系统的功能包括：
■ 光谱响应度
■ 外量子效率
■ 单色光/变功率IV
■ 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）
■ 不同偏压下的IT曲线
■ LBIC，Mapping
■ 线性度测试
■ 响应速率测试
DSR300微纳器件光谱响应度测试系统的主要技术参数包括：三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节，以及多种测试功能曲线。