BYK4563光泽度仪光泽度计，BYK光泽度仪，BYK光泽度仪三角度20°，60°，85°新型智能的光泽仪测量与智能通讯多年来，BYK微型光泽已经成为光泽测量不可超越的工业。它是集高精度、使用简便和多功能于一体的光泽仪，为当今品质管理的标准而设计。此外，smart-chart软件是智能通讯的理想工具，拥有专业的文档处理和高校的数据分析。

BYK光泽度仪绚丽的色彩显示：易于阅读-便于使用。BYK光泽度仪三角度20°，60°，85°，符合人体工学和操作简单是设计的主要焦点。微型光泽仪的体积不大也不小-刚好合适握在手中。滚轮操作、新的色彩显示和简易导航菜单使光泽测量从未变得如此简单。

BYK光泽度仪自动诊断功能：标准板OK-校准OK的读数要求有可信赖的校准。光泽仪和校标底座是一对的组合：光泽仪的标准板被安置在校标底座内始终受到很好的保护。独特之处在于：智能的自动诊断功能确保长时间稳定的校准，告诉您何时需要校准，甚至还能检查板是否干净。易于操作，安全可靠测量涂料或者金属的光泽-没问题用微型光泽仪，您可以对任何材料进行光泽测量-涂料、塑料或高光泽的金属。它的测量范围被扩展到了2000个光泽单位，保证了始终可靠的结果。

BYK光泽度仪三角度20°，60°，85°微型三角度光泽仪在合适的角度下察觉偏离高-中-低光泽：哪一种是您的应用？微型三角度光泽仪20°，60°，85°三种角度于一体-如同单角度仪器一样便携。三个角度在一台仪器上使您能按准迅速觉察到质量的变化微型三角度光泽仪μ光泽和厚度集于一身高效的涂装过程应使用尽可能少的涂料并完全符合客户所要求的质量。光泽和厚度是评估涂层质量的重要参数。微型三角度光泽仪可咋数秒内在同一个测量点同时测量这两个参数。不仅节省时间而且在现场使用也十分理想-仅携带一台仪器。

标准光泽厚度ISO2813,76682178,2360，2808ASTMD523B499,D1400DIN67530同时显示20°，60°，85°-用于高、中、低光泽涂料。

两用磁性/非磁性探头-在钢或铝基材上测量涂层厚度。微型光泽仪S-系列亚光处理不仅是一种新的设计趋势，而且对于那些注重无反射或者低反射的应用-如汽车内饰。通常，各种不同的材料被使用，从皮革到塑料，要使它们看起来和谐一致。另外，材质表面结构从粗糙的粒子到精细的条纹各不相同，多为低光泽表面。为了确保多种材料之间外观的一致性，必须规定严格的允差范围只有其准的测试仪器才能客观地控制生产。新型光泽仪S系列产品提升了在60°gloss角度下对测量技术要求苛刻的低光泽区域（0-20GU）的测量精度。通过认证的校准程序，保证较好的重复性。技术指标测量范围0-20GU20-100GU100-2000GU重复性±0.1GU±0.2GU±0.2%重现性±0.2GU±0.5GU±0.5%。

微型光泽仪XS适用于小部件的小口径今天，许多产品不但包括不同部件，而且由表面外观相似的部件组成。对于产品的成功，一个有吸引力的设计是非常重要的，如智能、电脑和家电用器。通常小部件是集成在大部件上或连接部件如框架，按钮或镶边装饰件。因为他们的尺寸和设计，传统光泽仪很难评估。微型光泽仪XS是60°的光泽仪，他的测量区域小到2X4mm，是测量小部件的理想解决方案，同时保证他们适合于大部件另一个版本，微型光泽仪60°XS-S，使用了更强的技术性能适用于测量非常亚光的表面。

特殊应用的光泽测量特殊的应用要求特殊的测量角度。陶瓷材料、塑料薄膜和固体塑料、纸张和纸板不是用标准角度20°、60°、85°测试，就是用行业特殊角度45°或75°。微型光泽仪45°塑料薄膜和固定塑料，包括不透明的和透明的，通常都使用45°角测量中光泽和低光泽。微型光泽仪45°：特别应用在陶瓷，塑料和薄膜的光泽测量标准的测量方法要求在每个样品上至少三个位置读数，以得到光泽均匀性的指标。微型光泽仪的统计模式将显示平均值和范围或标准偏差来衡量样本的均匀性。陶瓷、搪瓷等表面使用45°角进行测试，并常通过测量失光率来比较其对酸、碱或其他环境因素的抵抗能力。失光率%=100×所取多个点的平均值来评估光泽的变化，确保结果具有代表性。标准技术规范ASTM C346、D2457适用的测量角度范围JIS Z8741是45°。陶瓷、塑料、薄膜的光泽测量范围是10-180GU。特殊应用的微型光泽仪使用75°角，尤其是在涂布纸和未涂布纸上。在评估颜色变化中，测光泽可以忽略差异。白色表面的测量值会高于黑色表面不到一个光泽单位。德国BYK光泽度仪4563适用于非常高光泽的纸张。对于建筑外墙板等材料的光泽测试，也可以使用75°角。部分产品型号、名称、角度和测量面积如下所列：4560新微型光泽仪20°、4561新微型光泽仪60°、4562新微型光泽仪85°、4563新微型三角度光泽仪20°60°85°等。详情请参考各型号的规格表。除此之外，软件下载可参考smart-labGloss或smart-processGloss。如果需要延长质保服务，请查看技术服务章节。系统需求包括操作系统、硬件、内存、显示器分辨率、端口等。测量范围为0-100GU至100-2000GU，重复性约为±0.2GU，重现性约为±0.2%。测量时间约为0.5秒/每一角度。基体厚度分为磁性和非磁性。测量范围为Fe和NFe。