CRAIC20/30 PV™全光谱显微分光光度计20/30 PV™ UV-Visible-NIR
Microspectrophotometer 20/30 PV™为用户提供定制的紫外-可见-近红外光谱仪
创新的20/30 PV™显微分光光度计是CRAIC科技公司最强大的设备。
它结合了光学、光谱学和软件领域的技术进步，
为用户提供无与伦比的速度和性能体验。
CRAIC仪器以其简单易用而闻名，
这种易用性在这里得到了进一步改善，
使得这款设备成为先进的紫外-可见-近红外光显微分光光度计。
20/30 PV™显微分光光度计结合了最先进的科技，
允许用户在紫外-可见-近红外光范围内测量直径小于1微米的样品区域的透射比、吸光度、反射率、释放强度和荧光光谱。
即使是薄膜和色彩空间也能被检测到。
同时获得microspectra™（显微光谱），
观察到样品深紫光、可见光和近红外光处高分辨率的数字图像。
20/30 PV™显微分光光度计拥有出色的易用特性，
测量方法非破坏性，
所得光谱数据无与伦比。
这款显微分光光度计能够在从深紫光到近红外光区域无缝获取显微样品的光谱和图像，
包括吸光度、反射率和荧光性的microspectra™（显微光谱）和图像。
另外，还提供了用眼观察样品的DirecVu™和高分辨率紫外-可见-近红外光区域数字成像系统。
重要特点：
- 光谱范围：200至2100纳米
- 紫外-可见-近红外光透射比传递显微分光计
- 紫外-可见-近红外光透射比成像
- 紫外-可见-近红外光反射显微分光计
- 紫外-可见-近红外光传递成像
- 紫外-可见-近红外光荧光显微分光计
- 紫外-可见-近红外光荧光显微成像
- 拉曼显微分光计
- 紫外光、可见光和近红外光区域的偏振显微分光计
- 紫外光、可见光和近红外光区域的偏振微尺度成像
- 膜厚度测量
- 微观样品的色度学
- 带rIQ™包的折射率测量
- 手动或全自动操作
- Lightblades™技术的特点
- 整合TE冷却系列探测器，噪音低，稳定性好
- 精确的样品温控
- 带刻度，有不同的测量区域，甚至小于1微米
- 目镜和数字成像提供出色的图像
- 具有LambdaFire™分光计和成像控制以及分析软件的特点。
LambdaFire™同时包含触屏控制。
专业软件包括数据分析、光谱数据库、图像分析等软件。
紫外-可见-近红外光显微分光光谱仪来自前沿显微分光计，
完全整合了描述从深紫外到可见光到近红外范围的光谱。
同时直接获得样品空隙的图像，
样品测量更快更精确。
20/30 PV™拥有Lightblades™科技，
能够让您测量次微米级样品的透射比、反射率、偏振和荧光光谱。
CRAIC科技也是NIST可追溯的显微分光计标准的唯一来源。
拉曼显微分光光谱仪是灵活的，
当20/30 PV™装上CRAIC阿波罗™拉曼分光仪模块后，
能像拉曼、共振拉曼等其它测量显微样品的仪器一样工作。
这些模块包括激光、拉曼分光计和界面光学，
能够让您收集到高质量的样品拉曼光谱。
荧光性高灵敏度发射显微分光计和成像系统20/30 PV™可以被装配成测量显微样品荧光和冷光光谱以及图像的仪器。
20/30 PV™拥有Lightblades科技，
能够激发从深紫外到近红外的光，
能测出相同范围的放射，
对于材料科学、生物学、地质学等学科的显微荧光测定法来说是一个强大的工具。
偏振紫外-可见-近红外光显微分光计和成像系统20/30 PV™可以被装配成获得偏振光谱和图像的仪器。
20/30 PV™显微分光光度计拥有偏振Lightblades科技，
拥有从紫外光到近红外光的光谱范围，
性能超出其它仪器。
使用这套精细的系统，
您可以轻松快速地获得双折射和其它有偏振特点的样品的光谱和图像。
光谱表面成像整合了为自动化光谱分析设计的软硬件和带有显微空间解析度的样品3D成像技术。
样品吸光度、透射比、反射率、荧光性、放射性和拉曼光谱的3D数据地图可被生成。紫外-可见-近红外光显微光度计提供优质图像，从紫外光到近红外光覆盖范围广泛。20/30PV™设备配备了研究级光学器件，为紫外-可见-近红外光显微镜提供了独特的性能。这款光度计具有精密的成像软件，支持彩色、紫外线和近红外光区域的高分辨率数字成像。用户可以通过透射比、反射率、偏振和荧光显微镜实时获取样品图像。应用领域包括半导体薄膜厚度测量、MEMS设备、表面等离子体共振、光激能带隙水晶、杂质检测、蛋白质晶体、法庭科学、药物化学、可疑文件、OLED和平板彩色面罩等。紫外-可见-近红外光显微镜、紫外-可见-近红外光显微分光光度计以及拉曼显微分光光度计是实验室中常见的仪器。这些仪器并未获得欧洲IVDDirective、美国FDA或其他机构的批准用于诊断、临床或其他医学用途。