HORIBA SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪是最新型号的动态光散射粒径分布测定装置。具有高灵敏度和高精度的测量能力，可以全方位地表征单一体系的纳米尺度粒子，并完全解析纳米粒子的物质结构。

该仪器主要应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、碳黑、制药、病毒、涂料、化妆品、聚合物、食品、CMP、颜料、油墨粒子直径的测定。它具有超宽的动态光散射范围，可在0.3nm~8000nm范围内进行测量。

通过与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现了在单一纳米粒子专用光学系统中的高性能化。采用更低杂散光的90度检测光学系统和双光路系统（90度和173度），适用于更宽更浓度范围的样品测量。可以测定釉浆、颜料等高浓度样品，以及胶束、聚合物等浓度样品的粒子直径、Zeta电位和分子量。

样品浓度从PPM到百分之几十，SZ-100都能在原液状态下进行取样和测定。HORIBA自主研发的微量电泳样品池可以测定仅100uL的Zeta电位。该仪器广泛应用于胶制粒子、机能性纳米粒子、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等的测定。

操作简单，只需取样后按下测定开始按钮即可进行测量。符合溶菌酶（卵清蛋白）醋酸缓冲剂pH4.3和盐酸硫胺素（维生素B1盐酸盐）的分子量约14000和337，浓度分别为0.1mg/ml和300mg/ml的测定。

样品平均直径分别为4.0nm和0.5nm，Zeta电位NIST SRM 1980α-FeOOH的电泳迁移率为2.53±0.12umcm/Vs，LUDOX TM SiO2，0.01mol/L KCl的Zeta电位为-38.3mV。