Nanofocus研究级共聚焦显微系统 usurf expertNanoscope system
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Nanofocus研究级共聚焦显微系统 usurf expertNanoscope system

产品属性

  • 品牌Nanoscope system
  • 产地德国
  • 型号 usurf expert
  • 关注度0
  • 信息完整度
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产品描述
usurfexpert实验室非接触性测量系统是一个专为测试和实验设备开发而优化的系统,满足非接触性测量行业最高标准。
usurfexpert系统主要特点:
- 高端监测系统,保障研发和质量
- 高动态范围功能(16位)
- 400万像素相机,快速测量
- 自动测量平台,防撞保护
- 超高光学分辨率
- 紧凑设计

usurfexpert系统配备高精度传感器和x,y,z轴线性编码器,提供最高级别的操作舒适度。
系统具有手动z轴调节和领先的人体工学设计。
客户可选择用户主导模式或全自动选项,保证最简洁操作下的高质量测量和精度。

根据usurfexpert测定原理,光学三维表面检测可测量粗糙度、几何形状、平整度、磨损度、轴承比率等参数,符合国际标准如ISO25178和ISO4287。
与触觉计量学相比,三维测量提供定量信息,使结果更具意义。
系统生成高焦深的显微图像,再现超细粗糙结构轮廓,体现核心质量标准。其中的共焦测量技术为测试实验室和质量控制测量设备提供必要支持。

系统自动化功能包括样品自动测量与分析,千万级编程系列测量,灵活可编程的数据库软件进行测量和评估策略。

在测试和开发实验室中,usurfexpert灵活的共聚焦3D显微镜可测量各种材料的独立表面性质。共聚焦显微镜适用于质量保证的多种测量任务,提供自动测量和分析功能。

上海巨纳科技有限公司

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