HORIBA SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定。SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。 

颗粒分析仪采用动态光散射原理（DLS）。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm – 8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时（就是说，样品处于等电点），就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A2。

特征

将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身

宽检测范围，宽浓度范围

双光路双角度粒径测量（90° 和173°）

多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光

用于粒径和zeta电位检测的微量样品池

自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定