Horiba X射线荧光分析仪是专门针对WEEE(电气电子产品废弃物处理法令）和RoHS法令（限制电器电子产品使用有害物质法令），快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作非常简单。

X射线荧光是一种可对加工材料和部件进行快速、无损扫描的检测技术。分析时间只需要几分钟，灵敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系统的检测最低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 标准的1.2 mm 分析光速可以保证即使是非常小的电子元件和部件也可以独立进行分析。

基于大量客户的要求，HORIBA凭借长期的经验开发出全新的EDXRF分析装置MESA-50 。它将为您提供友好的操作界面和优异的使用性能。

MESA-50具有三种尺寸的准直器可用于各种大小的样品，从细长的电线、微小的电子器件到大型的样品。

结合SDD检测器和HORIBA首创的DPP处理器，MESA-50将为您带来EDXRF的全新体验。MESA-50是HORIBA全新的生态采购支持仪器，不仅适合于欧洲的RoHS，ELV，也适用于其他地区的各种法规。

特征

1．Speedy 快速

硅漂移检测器大幅度减少了测量时间，在高通量的同时提供了更高的灵敏度

2．Small 小巧

便携式，体积小，重量轻

尺寸294（长）* 208（宽）*205（高），重量12千克

内置电池可持续测量6小时

无需担心X射线泄漏

3．Simple 简单

减少日常维护工作（无需液氮）

无需真空泵

各种材料测量直观简单

4．Smart 智能

中英文操作软件

Excel数据管理工具