扫描卡尔文探针测试系统SKP370/470

    扫描卡尔文探针系统SKP370，是一种无接触，无破坏性的仪器，可以用于测量导电，涂膜，或半导体材料，与样品探针之间的功函差。这种技术是用一个振动电容探针来工作的，通过调节一个外加的前级电压测量样品表面和扫描探针的参比针尖之间的功函差。功函和表面状况相关。SKP的独特性质使在潮湿环境甚至是气态环境中也可以测量，将不可能研究变为现实。

扫描卡尔文探针测试系统SKP370/470

应用:

● 能量系统

● 偶极层形成

● 显示技术

● 电荷分析

● 费米能级测定

● 光电压光谱

● 腐蚀

● 涂层

● 传感器

● 太阳能蓄电池