红外双折射分布测量设备

                                                                                                      WPA-NIR

l  红外波长的双折射/相位差面分布测量

l  硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估

l  小型、簡単操作、高速測量

WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布

安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View

可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据

可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场

WPA-NIR的功能

1.     高速测量面的双折射/相位差分布  

              NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息

2.     测量数据的保存/读取       

              全部的测量结果都可以做保存/读取。易于跟过去的测量结果做比较等

3.     丰富的图形创建功能           

               从测量后的面信息，可以自由制作线图形和直方图。 复数的测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出