FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252

高性能X射线荧光测量仪，配有最先进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

特点

高性能机型，具有强大的综合测量能力

配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片

配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析

由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位  

典型应用领域

对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量

对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量

在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析

用于高校研究和工业研发领域 

FISCHERSCOPE® XDL®

X射线荧光测试仪，可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、防腐蚀镀层和大规模生产零部件

XDL镀层厚度测量仪特点

坚固耐用的镀层厚度测量设备，甚至可在较大的距离测量（DCM功能，范围0-80 mm）工作

固定光圈和固定滤光镜

用于1mm起大小的测量点

底部C型开槽的大容量测量舱

可编程的台式设备，用于自动测量

标准X射线管，比例计数器 

XDL镀层厚度测量仪典型应用领域

测量大规模生产的电镀零件

防腐镀层和装饰性镀层，如镍/铜上的铬。铬层测厚、铜厚测量

电镀工业中电镀液的分析

黄金、珠宝和钟表工业

FISCHERSCOPE® XDV®-SDD

高性能X射线荧光测试仪，配有可编程XY平台和Z轴，可自动测量超薄镀层和分析痕量元素

仪器特点

高级型号仪器，具有常见的所有功能

射线激发量的灵活性最大，激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变

通过硅漂移探测器，在 > 10万cps（每秒计数率） 的超高信号量下也可以正常工作，而不会出现能量分辨率的降低

极低的检测下限和出色的测量重复度

带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器

大容量便于操作的测量舱

典型应用领域

测量极薄的镀层，例如应用于电子和半导体行业中

痕量分析，例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测

进行高精度的黄金和贵金属分析

光伏产业

测量 NiP 镀层的厚度和成分