梅特勒XP2U超微量天平
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梅特勒XP2U超微量天平

产品属性

  • 品牌梅特勒-托利多
  • 产地瑞士
  • 型号XP2U
  • 关注度10
  • 信息完整度
  • 供应商性质一般经销商
  • 产地类别进口
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产品描述

规格 - XP2U超微量天平

极限值 XP2U
最大称量值 2.1 g
可读性 0.0001 mg
重复性(sd) - 加载处 0.00025 mg
- 低加载(加载处) 0.0002 mg (0.2 g)
线性误差 0.001 mg


灵敏度漂移 1.5 x 10-5
灵敏度温度漂移 2) 0.0001 %/°C
灵敏度稳定性 3) 0.0001 %/a
典型值 4)
典型重复性(sd) 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
典型微分非线性(sd) √8x(10-14) · g · R_nt


典型灵敏度偏移(sd)2) 3x(10-6)· R_nt
典型最小称量值*(符合USP) 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
典型最小称量值* (@ U=1 %, 2 sd) 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
典型稳定时间 < 10 s

 

1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 第一次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度  sd=标准偏差      Rgr=毛重     Rnt=净重(样品质量)   a=年
*  重复性和最小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。


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