仪器介绍：
NanoIR测试平台将可调制红外光源与AFM扫描模块完美结合，同时实现高分辨率材料纳米尺度上的形貌、红外光谱、热以及力学性能成像分析。该技术荣获2010年度美国R&D100大奖。
 
主要参数：
 
光谱范围：1200-3600cm^-1
光谱分辨率：<16 cm^-1
zei大成像尺寸：100μmX100μm
单幅光谱获取时间：<1分钟/每幅
 
 
主要特点：
独有技术突破传统红外光谱衍射极限，实现纳米尺度红外光谱采集
可同时获得纳米尺度上的形貌、红外光谱、热以及力学性能成像分析