冠测仪器GCSTD-B介质损耗测试仪
冠测仪器GCSTD-B介质损耗测试仪
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冠测仪器GCSTD-B介质损耗测试仪
价格:999

冠测仪器GCSTD-B介质损耗测试仪

产品属性

  • 品牌北京冠测精电仪器设备有限公司/冠测仪器
  • 产地北京
  • 型号 GCSTD-B
  • 关注度6
  • 信息完整度
  • 产地类别国产
  • 供应商性质生产商
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北京冠测试验仪器有限公司

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产品描述

GCSTD-B介质损耗测试仪

        介电常数测试仪

 

满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、技术指标 

1.   双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2.   双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3.   双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

4.   自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5.   全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6.   DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

7.   计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

8.  使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。          

 


主要技术特性

Q 值测量范围

2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档

固有误差

≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz )

 ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

工作误差

≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )

≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

电感测量范围

4.5nH ~ 140mH

电容直接测量范围

1 ~ 200pF

主电容调节范围

18 ~ 220pF

主电容调节准确度

120pF 以下 ± 1.2pF ; 120pF 以上 ± 1 %

信号源频率覆盖范围

100kHz ~ 160MHz

频率分段 ( 虚拟 )

100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz

频率指示误差

3 × 10 -5 ± 1 个字

 


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