产地:日本; 品牌:日立
光-电联用显微镜法(CLEM)系统
透射电子显微镜 H-9500
透射电子显微镜 HT7700
场发射扫描电镜热场式 SU500
离子溅射仪 MC1000
球差校正扫描透射电子显微镜HD-2700
特色
0.1 nm(晶体点阵)0.19 nm(点对点)0.13 nm(信息极限)
200倍 至 1,500,000倍
300 kV, 200 kV*, 100