采用第二代陶瓷X光管专利技术，通过精密机械加工使阳极靶材三维高精度定位，用户在更换X光管后无需重新校准路

• 立式测角仪，采用DOPS直接光学位置编码专利技术

技术参数：

1，功率：3kW
2，测角仪重现性：0.0001度
3，设备尺寸：1975×1132×1371 mm (H×D×W)


灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究，均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量，到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定，系统的应用不受任何限制，在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下，均可对块状材料以及薄膜进行分析。
快速——得益于帕纳科荣获专利的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法，只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。
前瞻性——如果出现新的应用，只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。