标准成像

真正的非接触模式AFM

接触模式AFM

侧向力显微镜（LFM)

相位成像

轻敲式AAFM

电性能

导电AFM

I-V谱线

扫描开尔文探针显微镜（SKPM/KPM)

高电压SKPM

扫描电容显微镜（SCM)

扫描电阻显微镜（SSRM)

扫描隧道显微镜 （STM)

扫描隧道光谱 （STS)

时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)

磁性能

磁力显微镜 （MFM)

可调外加磁场MFM

化学性能

扫描电化学池显微镜（SECCM)

扫描电化学显微镜 （SECM)

电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)

功能化探针的化学力显微镜

热性能

扫描热感显微镜(SThM)

光学性能

探针增强拉曼光谱 (TERS)

时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)

介电/压电性能

静电力显微镜 （EFM)

动态接触式静电力显微镜（DC-EFM)

压电力显微镜 （PFM)

高电压PFM

机械性能

Pinpoint纳米力学映射

力调制显微镜 （FMM)

纳米压痕

纳米刻蚀

高电压纳米刻蚀

纳米操纵

压电力显微镜 （PFM)

力测量

力－距离（F-D)光谱

力－体积成像

热噪声法标定弹性系数