产品简介
PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
产品特性
采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率
测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高
测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
不受环境光的影响
测量简单，样品无需特殊处理
Z方向,测量范围大：为27mm
主要技术参数
扫描范围：50×50（mm）
扫描步长：0.1μm
扫描速度：20mm/s
Z方向测量范围：27mm
Z方向测量分辨率：2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。