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性能指标
熔点测量范围：室温至320℃
zei小读数：0.1℃
测量重复性：±1℃（在<200℃时） ±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
SGW X-4显微熔点仪（数显）
WRX－1S显微热分析仪
WRS－2微机熔点仪
WRS－1B数字熔点仪
WRR熔点仪
SGW X-4B显微熔点仪
产品描述
