产品描述
该量子效率测试系统采用PVM一些自有技术，降低了产品成本，性能仍然优越。
| 部件No. | 描述 |
| QE-IR4 QE-IR4-PP QE-IR4-C | 波长扩展到1400nm |
| QEXL-IQE QEXL-IQE-PP QEXL-IQE-C | 半球反射率测量 |
| QE-SDIQE QE-SDIQE-PP QE-SDIQE-C | 小半球反射率测量装置 |
| QE-PDSi QE-PDSi-PP QE-PDSi-C | 额外的硅校准光电二极管 |
| QE-PDGe QE-PDGe-PP QE-PDGe-C | 额外的锗校准光电二极管 |
| QE-IV QE-IV-PP QE-IV-C | IV测量能力 |
| QE-GB QE-GB-PP QE-GB-C | QE手套箱 |
| TFQ-XYL TFQ-XYL-PP TFQ-XYL-C | X－Y面扫描能力 |
| QE-BLF QE-BLF-PP QE-BLF-C | 偏光光纤装置 |
| QE-MJ3A | 自动测量能力 |
