NeaSNOM是市场唯一一款散射型扫描近场光学显微镜（简称s-SNOM），专利化的散射式核心设计技术，极大的提高了光学分辨率，并且不依赖于入射激光的波长，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。
NeaSNOM中嵌入了一些系列专利化的探测和发光模块，保证了NeaSNOM近场光学显微镜和谱图的可靠性和可重复性，成为纳米光学领域热点研究方向的 科研设备，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等方向得到许多重要科研成果。

NeaSNOM主要特点与独特技术优势

? 专利保护的散射式近场光学测量技术，独有的极高空间分辨率10nm 
? 基于高稳定性的AFM系统，同时优化了纳米尺度下光学测量
? 采用双光束设计，极高的光学接入角：水平放下180° & 垂直方向 60°  
? 专利保护的反射式光学系统，用于宽波长范围的光源：可应用于可见、红外和太赫兹光谱范围
? 专利保护的干涉式近场信号探测单元
         - 近场振幅和相位分辨测量功能
         - 单线测量模块，用于近场成像应用
         - 宽带探测模块，用于FTIR 吸收光谱研究

? 在保证极高的近场测量性能前提下，可选择 VIS 或 IR 激光选件  
? 在极高的分辨率下，研究有机或无机样品，整个操作仅需要常规的AFM样品准备过程

重要研究领域与应用

                   等离基元研究                                               石墨烯研究                                   纳米尺度(<20nm)FTIR研究