X射线荧光分析仪BRA-135F可实现固体、粉末和液体样品及物体表面覆盖物和滤网中沉积样品的快速分析，二十几种元素可在300s内同时测定，检出限在100ppm 量级范围内。

工作原理

能量色散荧光分析仪工作原理是用SDD半导体检测器探测样品被激发源激发所散射的各种能量的特征X射线荧光。半导体检测器的原理为，当X射线射入半导体时，带能量的射线量子转化为脉冲电流向外电路输出，因此探测器输出信号振幅与接收到的X射线能量成正比，根据输出信号的幅度和大小，对样品中化学元素进行定性定量分析。

特点：

分析元素范围9F - 92U

定量分析

采用基本参数法进行元素定量半定量分析

内置控制PC

免辐射安全检查，无需特殊提供房间放置

方法优势：

XRF在同类元素定性定量分析方法中占主导地位。主要特点为：样品无损检测、多元素同时分析、分析速度快、准确率高；灵敏度高、可检浓度范围大、定量分析理论发展水平高、无标样也可进行定量分析。

高分辨SDD探测器

配有超薄衍射线接收窗口的硅探测器，扩大了X射线能量检测范围

检测限低

优化了探测器制造材料及初级滤光片的厚度，加配了高亮度的X射线光源系统，这使检测限降低，保证了各元素得到最佳测试效果，真空状态下可以测定从9F到17Cl的轻元素。

形状不规则样品的分析

可用于大块或不规则形状样品测试，如：

大尺寸矿产和金块

工业物品的ROHS分析

金属及合金的来料控制

特殊细胞中或滤膜表面液体的分析

实用性

完善的辐射安全防护

重量轻便便于搬运

内置电脑

可连接到局域网远程控制测量分析和数据的存档

可集成到实验室信息管理系统

防止未经授权的数据访问，保护数据

技术指标：