双折射测量系统 /双折射测试仪
全自动双折射测量系统 ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ； 可同时测量延迟轴和主轴两个方向； 基于光学相位差的双折射系数显示； 一秒采样时间； 应用： 液晶显示屏膜； 聚合物膜的取向； DVD 和 CD 光学系统组件； 由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力； 某些透明材料的内部残余应力，如光学玻璃和塑料； 某些透明材料的热应力； 光弹性系数； 全自动双折射测量系统 ABR-22( 自动测量线性和周向双折射系数，高速型 )

双折射测量系统 /双折射测试仪
特点：
1）可同时或独立测量线性和周向双折射系数；
2）无需样品旋转，即可测量主轴和延迟轴的线性双折射系数、圆周双折射系数的旋转角；
3）一秒采样时间；
4）可选样品旋转台；
5）二维或三维显示 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ；
6）可全自动操作；

应用：
1）液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射分布 ；
2）液晶显示屏 (TN, STN) 的双折射系数与电压的关系；
3）电－光学器件 ( 如： Pockel 效应、 Faraday 旋转、 Kerr 旋转等 ) ；
4）光学晶体研究；
5）聚合物膜研究；

全自动双折射测量系统 ABR-30( 超高速型 ) 特点：
1）可以实现双折射系数的高速测量： 100 微秒；
2）维护成本极低；
3）二维或三维显示；
4）可选样品旋转台；
5）操作方便；

应用：
1）在静态和高速旋转速度下进行光学储存器件表征；
2）动态双折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ；
3）对某些透明材料的热冲击；
4）动态光弹性系数；
5）光学相位调制器；