原理: 高能激光把样品激发为气体, 气体进入分析的光学系统得到低浓度元素含量(低ppm级别)!
 
提供: 样品表面的二维(X-Y)元素分布和元素的深度(Z)分布.
 
优点: 检测范围广, 不需要样品前处理. 样品是固体就可以.
 
如果你正在使用XRF, AA, ICP, 你就可以考虑这先进的技术. 这就是美国宇航局在火星使用的技术.
 
快速，简单，直接分析: 全新设计的工业级元素分析系统可分析从氢（H）到铀（U）的元素，包括那些使用XRF（X射线荧光）和其它方法不能准确分析的轻元素在内。此外，它不需专业的大师级高级技术人员操作它–普通的技术员就可快速，简单地对其地进行校准和测量，并生成所需的分析报告。使用LIBS，无需进行一些耗时的样品前处理（如消解等），可以直接对样品进行分析。
技术简介: 该元素系统仪采用基于LIBS（激光诱导击穿光谱）技术的原理。其中高功率激光在待分析材料表面可产生明亮的火花（或等离子体），然后，携带样品信号的光被独特的光谱仪和检测系统检测。元素的荧光直接与待分析材料的元素浓度相关。与其它元素分析的技术相比，LIBS所具有的超强分析性能优势相当明显。特别是，它对材料中存在的绝大多数元素（包括一些其它技术不能检测的重要低原子序数元素如氢和碳）都相当灵敏。由于几乎无需进行样品前处理，从而使分析效率显著提高，大大降低了分析成本。可以同时检测所有元素的浓度，分析时间约20秒，这与其它分析技术相比，具有显著优势。