产品描述
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
主要技术特性 :
| Q 值测量范围 | 2 ～ 1023 |
| 量程分档 | 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 |
| 固有误差 | ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ） ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 工作误差 | ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ） ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 电感测量范围 | 4.5nH ～ 140mH |
| 电容直接测量范围 | 1 ～ 200pF |
| 主电容调节范围 | 18 ～ 220pF |
| 主电容调节准确度 | 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 ％ |
| 信号源频率覆盖范围 | 100kHz ～ 160MHz |
| 频率分段 （ 虚拟 ） | 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz, 10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz |
| 频率指示误差 | 3 × 10 -5 ± 1 个字 |
搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
概述
BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。
BD916介质损耗测试装置技术特性 ：
| 平板电容器 | 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 |
| 极片间距可调范围 | ≥15mm |
| 夹具插头间距 | 25mm±0.01mm |
| 夹具损耗正切值 | ≤4×10-4 （1MHz） |
| 测微杆分辨率 | 0.001mm |
电感：
| 线圈号 | 测试频率 | Q值 | 分布电容p | 电感值 |
| 9 | 100KHz | 98 | 9.4 | 25mH |
| 8 | 400KHz | 138 | 11.4 | 4.87mH |
| 7 | 400KHz | 202 | 16 | 0.99mH |
| 6 | 1MHz | 196 | 13 | 252μH |
| 5 | 2MHz | 198 | 8.7 | 49.8μH |
| 4 | 4.5MHz | 231 | 7 | 10μH |
| 3 | 12MHz | 193 | 6.9 | 2.49μH |
| 2 | 12MHz | 229 | 6.4 | 0.508μH |
| 1 | 25MHz，50MHz | 233，211 | 0.9 | 0.125μH |
介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项技术：
A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有工程师为您解决您的疑问！
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