产地:北京; 品牌:赛凡光电
本系统应用于光学元件表面散射率的测量,主要针对大尺寸光学元件。
指数指标
散射率检测精度 0.1%
升降机构重复定位精度:0.02mm
旋转机构重复定位精度:<0.05°
倾斜机构调整角度:±7.5 °
平移机构:分辨率1um
工作频率(电子学系统参数):1000Hz
动态范围(电子学系统参数):80dB
品质因数(电子学系统参数):Q>50
A/D(电子学系统参数):16bit
硅电池QE/IPCE 测试仪
硅太阳电池光谱性能测试系统
7-SCSpecII 硅太阳电池光谱性能测试系统
7-SCSpecV 多功能太阳电池光谱性能测试系统
7-SCRD8 太阳电池反射率测试
7-SCE500 太阳电池光谱电化学测试仪