Rame hart接触角表面张力测量仪 表面张力动态测量仪

在由rame-hart仪器公司提供的一系 列仪器中,Model 400占有独特的地位: 它是一款专门为半导体制造商这 一特定行业制造和优化的仪器. 今天的芯片制造商从事具技术性和 挑战性的制造任务。处理方法需要越 来越复杂和复杂的方法和监测系统来 检测污染物和减少排放(分子污染， 或MC)，这将降低产量和利润。 在帮助芯片制造商通过接触角检测过 量的MC方面，ramé-hart一直处于 先导地位。在正常的洁净室生产条件 下，纯去离子水滴沉积在氧化的硅片 上。如果接触角高于一个特定的设定 值，则会发生过量的有机冷凝。

在经过特定和高度控制的清洗过程 后，晶圆片再次被清洗，通过接触角检查，以确保它们没有污染物。 Model 400 i是在 10k洁净室使用的 Model 400 为芯片制造商优化，它 也适用于其他应用需要一个大的旋转 圆形标本阶段。 所包含的DROPimage Pro软件除了 测量接触角、表面能量(使用6种不同 的方法)、表面和界面张力外，还测 量其他参数 Model 400 模型400可以很容易地 定制。自动注射系统是一个通用的选 择，并建议在QC环境中，许多测试 是每天进行，重复性是很重要的。 旋转晶圆支架也可以升级到10英 寸、12英寸甚至13.625英寸的支架， 或者降级到6英寸或4英寸的支架 真空卡盘有6英寸和8英寸两种尺寸

Model 400 配置强大的DROPimage Pro软件包，能够接触角，表面能量，表面张力，和界面张力。

技术参数：
接触角范围：0– 180°
接触角分辨率：0.1°
接触角精度： /- 0.10°
摄像机：German-Made U1 Series
背光设置：可变光纤照明
旋转晶片：8INCH
仪器尺寸：635 x 267 x 603 mm

仪器重量：8.25 kg（不包括电源）
电源：110或220 VAC
耗材：光纤灯100-00-FOB

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