JSM-7100F肖特基场发射扫描电镜采用通用性强的out-lens式物镜和High Power Optics（高性能电子光学系统），操作非常方便。

基于用户友好的SEM可以和具有多种特性的附件组合，如低加速电压下高分辨率的观察和分析、异种信号的同时观察 （TTLS系统）、低真空模式（LV系统）下的观察和分析、用大视场观察和分析（LDF系统）等，可以满足每个用户的个性化需求。

由于在样品附近没有磁场泄漏，对磁性材料样品的高分辨率观察和EBSD测试非常有效，是一款对所有材料的形貌观察及各种分析能发挥威力的多功能扫描电镜。安装选配件TTL能获得更多的样品信息。此外，配合使用Gentle Beam （GB模式即柔和光束），以数百电子伏的极低能量可以观察样品的浅表面。