Phasics SID4 波前传感器
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Phasics SID4 波前传感器

产品属性

  • 品牌Phasics
  • 产地法国
  • 型号 SID4 DWIR, SID4 LWIR-640,SID4 IR-MCT
  • 关注度17
  • 信息完整度
  • 产地类别进口
  • 供应商性质一般经销商
  • 组件类别光学元件
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上海羽宸光电科技有限公司

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产品描述

SID4 DWIR & SID4 LWIR-640 & SID4 IR-MCT(红外光) 

 

a.    基于专利技术的SID4 DWIR是一个独特的波前分析仪,它覆盖中红外波段和远红外波段(3-5um& 8- 14um), 对于MWIR和LWIR,它提供了高分辨率的测量(160 x 120)范围,是完全适合红外目标,镜头测试或光束测量的红外激光器(二氧化碳、光参量来源…);

  

b.SID4 LWIR是一个超高分辨率波前传感器,在长波红外区域(8-14um)相位的专利技术以及非制冷焦平面阵列技术使它简洁且易于使用, 因此很容易集成到光具座,远红外线镜头测试或激光光束测量链(二氧化碳激光器, LWIR来源……)。

 

 c.这种独特的波前分析仪拥有极高分辨率和超高灵敏度,并且它在短波红外成像的范围从1.2um到5.5um,因此它完全适在低光红外源,如以黑体或镜头为目标的测试或红外光谱的激光光束测量。

 

主要特点及推荐应

a.    SID 4 DWIR 

特点

高分辨率     160*120

双频         MWIR&LWIR波段

消色差       兼容黑体

高数值孔径测量  没有中继透镜

 应用

1.    光学测量, SID4 DWIR在描述红外目标(热成像和安全愿景),红外镜头(CO2激光器),MTF,PSF,以及Zernike畸变是非常完美的工具,它也可测试多个波长可能存在的色差

2.    在表征激光束的CO2激光器或红外激光源,SID4 DWIR提供了一个全面的光束特性(畸变,M2,强度剖面图,光束参数…)

bSID4 LWIR

 特点

高分辨率     160*120

消色差        8-14um

超长波段      1.2-5.5um

高数值孔径测量  没有中继透

便于集成

应用

1.      对于光学计量,SID4 LWIR是一种独特的工具,用来描述光学的红外热成像,安全性或安全愿景等,并且它也是组成CO2激光器的光学部件,它提供了MTF和畸变。由于它的简洁性,因此可以在工作台或者生产线上进行简单的集成。

2.    在激光计量方面,SID4 LWIR给出了全面的光束特性(M2,Strehl radio,强度剖面图,光束参数…)。它适用于远红外线光束测量如CO2激光器,LWIR光参量激光器等

c. SID4 IR-MCT

特点

超高灵敏度    3nm RMS@3uW/cm^2

高分辨率      160*128

即使在低通量条件下依然具有高精确度

超长波段       1.2-5.5um

高数值孔径测量    在F/1前没有中继透镜

上一代冷却MCT探测器

应用

1.   对于光学计量,SID4 IR-MCT是一种独特的工具,用于描述红外目标或镜头MTF以及畸变和WFE。其高灵敏度也可以和黑体一起进行高光谱测试

2.    在激光计量方面,在低红外光范围,量子级联激光器或红外光谱激光器,SID4红外是现有唯一的工具。它提供了一个完整的光束特征参数(畸变,M2,强度剖面图,光束参数……)

 

具体详细参数

参数

单位

SID4 DWIR

SID4 LWIR

SID4 IR-MCT

波长范围

um

3-5and8-14

8-14

1.2-5.5

孔径尺寸

mm^2

10.88*8.16

16*12

9.60*7.68

最大孔径

mm^2



F/1

空间分辨率

um

68

100

60

精确度

nm RMS

75

75


相位和强度抽样


160*120

160*120

160*128

灵敏度

nm RMS@uW/cm^2

25nm RMS

25nm RMS

3nm RMS@3uW/cm^2

动态范围

um



300

采集率

fps

50

24

140

实时处理频率

fps(full resolution)

10

10

20

检测技术




Cooled MCT

尺寸(w*h*l)

mm

85*115*193

96*110*90

135*140*240

重量

kg

~1.6

~0.85

~3.5

 

 


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