太阳能电池IV特性分布测量系统是一种新型的太阳能电池测量设备，它同时具备IV特性mapping测量，缺陷分析功能，QE量子效率Mapping测量等功能。
可图像化地显示电池或组件效率分布，可用于缺陷分析。单晶硅，多晶硅，CIGS，染料敏化，有机太阳能电池或组件都能进行测量。
采用测试方法是：条形模拟太阳光按设定的多个方向扫描照射光伏电池表面，扫描过程中同时采集IV特性数据，获取的数据经过CT（计算机断层扫描）计算可得到直观的全范围内每一点IV特性图像。
技术特点：
可应用于各种太阳能电池和组件；
zei大可测量电池或组件尺寸：1mm×1mm to 156×156mm，500mm×500mm，1500mm×1500mm or更大；
测量时间，小于1分钟（6英寸片）
单点或全区域的IV特性数据分布
AM1.5滤片，可见光，红外光滤片
辐照光强one sun，且0.1~7sun可调；
温度控制单元
缺陷检测功能
全自动测量软件
测试功能：
全面积范围内电流密度、短路电流、填充因子、转换效率、内阻等IV特性分布Mapping测量；
全面积范围内光谱响应SR、量子效率QE Mapping测量；
指定点、微区光谱响应SR、量子效率QE Mapping测量；
指定点、微区内电流密度、短路电流、填充因子、转换效率等IV特性分布Mapping测量；
单一波长下全面积范围、指定点、微区IV特性分布mapping测量；
定电压下电流密度分布Mapping测量；
效率不均匀度分布分析、分流分析、失效分析等；
产品描述
