J200 LIBS系统特色 
     高稳定Q开关, 短脉冲Nd:YAG 激光 可选择多波长 < 5 nsec at 213 nm，创新的模组化设，因分析需求，提供三种LIBS 检测器选择。
    稳定激光能量的光闸设置 ，高分辨双CMOS相机系统， 可用于宽视野观测样品表面特征，应用光谱公司的 Flex 样品室内置气体模组可优化气流和颗粒清洁能力，满足不同测量要求，先进的微集气管设计，可尽可能的减少排气，防止集结剥蚀颗粒，消除记忆影响。   
    双通道高精度质量流量控制器和电子控制阀 

    自动样品高度调整功能 
     J200激光诱导击穿光谱仪采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了若样品表面凹凸不平而剥蚀不均、导致元素含量值误差大的问题；激光能量稳定阀确保了到达样品表面的激光能量均匀，使所有采样点的激光烧蚀均匀一致；3-D全自动操作台最大行程可达100mmx100mmx36mm，XY行程分辨率0.2μm，Z行程分辨率0.1μm， 优于其它任何同类产品。 
      J200激光诱导击穿光谱仪可对固、液、气等样品进行全元素LIBS快速检测
      J200激光诱导击穿光谱仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，测量过程中无需人为拆卸。

系统配置

     主机系统：包括激光器及控制系统，激光传输光学元件，样品台、样品室、气体管路系统等、样品成像系统等； 
     等离子体光谱检测器：Czerny Turner光谱仪/ICCD相机、阶梯光栅光谱仪/ICCD相机、同步4/6通道CCD光谱仪三种LIBS检测器可选； 
    软件系统：系统操作软件、数据分析软件、TruLIBS发射光谱数据库、化学统计软件。