S1024DW大阱深探测器光谱仪采用1024像元光电二极管阵列探测器，用于需要高信噪比的测量。通过S1024DW可以观察到小于0.00001个吸光度单位的变化，适合高亮度的应用。

S1024DW系列探测器选项

特性 S1024DW
S1024DWX

探测器：Hamamatsu S3903 线阵二极管
Hamamatsu S3904线阵二极管

像元： 1024像元
1024像元

像元尺寸：25 µm x 500 µm
25 µm x 2500 µm

阱深： 31,000,000 electrons
156,000,000 electrons

信噪比（全扫描） 2500：1
8000：1

A/D精度: 12 bit
16 bit

暗噪声： 2 RMS
2 RMS

校正后线性度： >99%
>99%

S1024DW系列探测器附件

型号描述

L2探测器聚光镜:附着在探测器上的圆柱状透镜，用于增加光的采集效率。

OFLV-DW:可变长通滤光片，在200-850 nm系统中消除高阶效应。

OFLV-350-DW:可变长通滤光片，在350-1000 nm系统中消除高阶效应。

规格

尺寸：153.4 mm x 105.2 mm x 65.6 mm （采用 ADC1000-USB A/D转换器）
消除高次衍射滤光片：
带通和长通滤光片

焦距：42 mm （入射）; 68 mm （出射）

功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX辅助通道）

光学分辨率: ~0.3-10.0 nm FWHM （取决于光栅和入射狭缝）

探测器：线性二极管阵列

杂散光: 600 nm时 <0.05%； 435 nm时 <0.10%

探测器范围：200-1100 nm

相对灵敏度：和USB4000的CCD探测器相比，S1024DW 在紫外段约为1/30，可见段约为1/80

光栅：14种光栅; UV到NIR

入射孔径：5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm宽狭缝或光纤（无狭缝）

光纤连接：SMA905连接到0.22孔径单芯光纤

积分时间：31ms到65s

o-element-wrap: around; mso-element-anchor-vertical: paragraph; mso-element-anchor-horizontal: margin; mso-element-top: 2.85pt; mso-height-rule: exactly">

焦距：42 mm （入射）; 68 mm （出射）

功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX辅助通道）

光学分辨率：~0.3-10.0 nm FWHM （取决于光栅和入射狭缝）

探测器：线性二极管阵列

杂散光: 600 nm时 <0.05%； 435 nm时 <0.10%

探测器范围：200-1100 nm

相对灵敏度：和USB4000的CCD探测器相比，S1024DW 在紫外段约为1/30，可见段约为1/80

光栅：

14种光栅; UV到NIR

入射孔径：5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm宽狭缝或光纤（无狭缝）

光纤连接：SMA905连接到0.22孔径单芯光纤

积分时间：31ms到65s

o-element-wrap: around; mso-element-anchor-vertical: paragraph; mso-element-anchor-horizontal: margin; mso-element-top: 2.85pt; mso-height-rule: exactly">

焦距：42 mm （入射）; 68 mm （出射）

功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX辅助通道）

光学分辨率：~0.3-10.0 nm FWHM （取决于光栅和入射狭缝）

探测器：线性二极管阵列

杂散光：600 nm时 <0.05%； 435 nm时 <0.10%

探测器范围：200-1100 nm

相对灵敏度：和USB4000的CCD探测器相比，S1024DW 在紫外段约为1/30，可见段约为1/80

光栅：

14种光栅; UV到NIR

入射孔径：5, 10, 25, 50, 100 or 200 µm宽狭缝或光纤（无狭缝）

光纤连接：SMA905连接到0.22孔径单芯光纤

积分时间：31ms到65s

灵敏度高达0.00001个吸光度单位

S1024DW大阱深探测器光谱仪采用1024像元光电二极管阵列探测器，用于需要高信噪比的测量。通过S1024DW可以观察到小于0.00001个吸光度单位的变化，适合高亮度的应用。

“X"选项：超大阱深探测器

S1024DW是标准阱深光谱仪，其二极管阵列探测器的信噪比为2500：1。S1024DWX具有更大的阱深，信噪比为8000：1。

理想的高光强应用光学平台

S1024DW应用“USB"（也称作“S"）系列光谱平台，可以根据具体不同的应用来配置光学平台。具体选项有入射孔径、探测器附件、滤光片及光栅等等。S1024DW光学平台的操作和USB4000光学平台很相似。S1024DW光学平台通过光纤采集光信号并色散到1024个高灵敏度光电二极管组成的阵列上，而在USB4000中采用的是3648像元的CCD阵列。

可集成的系统，适合多点采样

在S1024DW光谱仪的主通道上可以附加多至7个辅助通道用以多点采样，可以用来扩展探测的波长范围或监视参考光谱。所有通道都通过一个ADC1000-USB A/D转换器进行数据采集，每个通道轮流工作，总共8个光谱仪通道的数据同时采集。ADC1000-USB转换器通过USB接口连接S1024DW到PC。可以分开购买S1024DW和ADC1000-USB，或同时作为一个整体（S1024DW-USB）购买。