半导体晶片傅立叶红外测定仪
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半导体晶片傅立叶红外测定仪

产品属性

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  • 型号WT221S
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俄罗斯对外电子公司北京代表处

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仪器简介:
应用:
1.硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法(晶圆厚度0.4~2mm),浓度范围:
(5x1015
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