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ST2000薄膜测厚仪(涂层)
产品属性
品牌
产地
型号
ST2000-DLXn
关注度
17
信息完整度
关闭
产地:; 品牌:
产品描述
仪器简介:
科美(K-MAC)公司的ST2000-DLXn薄膜测厚仪适用于大学和科研中心。
技术参数:
1、尺寸 :190 x 265 x 316 mm
2、重量 :12Kg
3、类型 :手动的
4、测量样本大小 :≤ 4"
5、测量方法 :非接触式
6、测量原理 :反射计
7、活动范围 :150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
8、测量范围 :200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
9、光斑尺寸 :20㎛ 典型值
10、测量速度 :1~2 sec./site
11、应用领域 :a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、选择 :参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探头类型 :三目探头
14、nosepiece :Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明类型 :12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特点:
测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
苏州安创仪器有限公司
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