仪器简介：

本装置可对热电材料的电导率（Seebeck系数）和电热导率。可同时进行测量。操作简单温度范围为80℃～1000℃。

●用途
半导体材料，陶瓷材料，金属材料及其他材料的热电性能测定。

技术参数：

●技术指标
温度范围: ① -80 ～ 100 ℃　② 50 ～800 ℃
③50 ～ 1000 ℃
温度设定范围 温度段及温差段 zei大125段
试样尺寸 φ2～4mm，角×5～22mm
测定气氛 低压He气体中 （大气中）

主要特点：

热电材料的Seebeck系数/电热导率的测定

●特长
由高精度，高灵敏度温度可控的红外线金面反射炉和控制温度用的微型加热源构成。
试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。