产品描述
【简单介绍】
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 综合 |
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
【详细说明】
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪
特点：
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪
特点：
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
Surfix basic S可换探头统计型测厚仪膜厚仪
特点：
1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层
2.分辨率0.1μm
3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
4.探头需另选购
