快速划痕测试仪REVETEST Xpress (1N - 200N)

快速划痕仪REVETEST Xpress为企业质量监控提供了一种低成本的理想检测手段。

该仪器拥有非常友好的用户使用界面，可以用于膜基结合强度、薄膜抗划擦能力以及传统方法的硬度测量（显微镜观测）。

REVETEST Xpress的简约化设计为您的质量检测和产品开发部门提供了一种高效、可靠的手段。用户可以通过与仪器配套的软件自行定义测量参数，然后将这些自定义的测量参数导入一张USB盘中。您只需将此USB盘放入仪器内置的USB标准接口，然后按下“开始”键来启动您自定义的测试即可。测试结束后，用户可以选择直接在仪器上（如果仪器配套了光学显微镜选件）或使用用户实验室的其它光学显微镜分析实验数据和划痕形貌。

特点
金刚石针尖划痕
闭环力学反馈控制
符合国际标准ASTM、C1624和EN 1071
选件
升级到Xpress Plus
升级到标准配置的大载荷划痕仪Revetest
CCD光学显微镜与显示器
声发射传感器
深度传感器
多种划痕针头几何形状配置