发布时间:2022年04月
Nikon 干涉测量镜头
1)适合非接触光学压型
2)可选Michelson 和 Mirau 镜头
3)200mm镜筒远场校正设计
干涉测量镜头可用在非接触光学压型测量设备上,通过此镜头可得到表面位图和表面测量参数等。也可用来检测表面粗糙度,测量精度非常高,在一个波长之内。一束光通过分光镜,可将光直接射向样品表面和内置反光镜。从样品表面反射的光线通过再结合,就产生了干涉图案。与Mirau镜头比起来,Michelson镜头拥有更长的工作距离,更宽的视场和更大的焦深。Mirau镜头用在需要高倍率和/或大数值孔径的场合。采用Nikon 200mm镜筒(#58-520)的话可将镜头直接装配到C接口相机上。
放大率 | 数字孔径 NA | 焦距 FL (mm) | 工作距离 (mm) | 产品号 |
2.5X | 0.075 | 80 | 10.3 | #59-310 |
5X | 0.13 | 40 | 9.3 | #59-311 |
10X | 0.3 | 20 | 7.4 | #59-312 |
20X | 0.4 | 10 | 4.7 | #59-313 |
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