J200 Femto iX LA 激光烧蚀（LA）系统

J200 Femto iX激光烧蚀（LA）仪器

200 Femto iX LA仪器代表了基于上紧凑的台式设计的超快激光采样技术的新技术。该仪器是高度成功和久经考验的J200 Femto LA仪器的下一步发展，J200 Femto LA仪器在上拥有大的安装量。

J200 Femto iX的核心是紧凑而坚固的激光源，可从Applied Spectra获得。J200 Femto iX具有先进的硬件设计，包括智能运输气体控制，自动样品高度调节，高分辨率3D样品台，创新的样品池和LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能，是具创新性的飞秒可以解决苛刻的LA-ICP-MS分析的LA仪器。该仪器还配有业界的数据分析软件Clarity Femto，可进行有效的时间分辨ICP-MS信号处理，简单的定量分析，2D / 3D元素成像和样品取证。

J200 Femto iX LA仪器的亮点：

• 高度，准确度和灵敏度

• 紧凑的台式设计

• 负担得起的费用

• 维护成本低

• 紧凑型高重复率飞秒激光器

• 智能运输气体控制

• 自动调整样品高度

• 高分辨率3D样品台

• 创新的样品池

• 串联LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS（激光诱导击穿光谱）附加功能

应用须知

使用J200 LA仪器实现超灵敏电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）分析：玻璃样品研究

Applied Spectra Inc.的J200 LA仪器与ICP-MS连接以建立品质因数。分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以确定可以检测的质量并确定检测限（LOD）。