EA1400全新的硅漂移探测器（SDD）设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外，高性能探测器能提高计数率，增加探测痕量元素的精密度，并且实现测量较轻元素的卓越能力。为了确保最高生产率，将黄铜中镉的筛查（通常是XRF RoHS筛查中最具挑战性的一项）功能设计成比传统型号速度更快，从而大幅提高通量。

该软件的一项内置功能可直观标记超出预设浓度限制的预定义元素。使用精密度控制软件的EA1400一旦达到预定义参数将自动停止分析。可在预定义测量时间之前确定合格/失败情况，由此可增加测量多件样本的通量，从而节省时间且不会影响质量计划。

除了RoHS筛查，EA1400也能够辨别矿渣（硅、钙、铝和镁）、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分。

特点

■ 高阶Vortex SDD检测器

■ 快速分析缩短检测时间

■ 高检测率、高精准度

■ 计算机控制五种滤波器

■ 元素分析范围（钠Na-铀U）

■ CCD超高分辨率图像

■ 准直器面积自动切换1mm、3mm、5mm