Dimension XR系列扫描探针显微镜仪器，集成了过去几十年的研究和技术创新经验，为纳米力学、电学、电化学等先进研究领域的表征工作提供了独有的功能模块方案，使得对空气、液体或电化学环境里的材料和纳米 系统的定量表征更加简便。

 AFM -nDMA

AFM 首次可以在纳米尺度上研究聚合物样品在流变性相关频率线性区域的性能，提供完整的定量粘弹性分析。专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率追踪技术在流变相关的0.1 Hz至20 kHz频率范围内进行小应变测量，获得与宏观DMA分析相符的存储模量、损耗模数和损耗角正切值等性质。

专有的数据立方体模式

这些模式利用快速力阵列模式在每个像素点中执行力曲线测量，并具有用户定义的停留时间数据采集。使用高速数据捕获功能，在停留期间执行多种电学测量，从而在每个像素上产生电学和力学谱。数据立方体模式在单次测量中提供完整的表征，这在商用AFM中是闻所未闻的。

所有模式、所有环境的高分辨率

无论是在液体环境中获得样品真原子相，还是在空气中获得样品模量和导电性的原子级分辨率分布，Dimension XR系统在所有测量中都能提供最高的分辨率。它们使用布鲁克专有的峰值力轻敲技术在各种软硬样品上的性能表征已成为行业标杆，包括聚合物中的分子缺陷或晶体中的缺陷。同样技术也被用来分辨粗糙玻璃上的精细起伏结构，且具有惊人的稳定性，在数百次扫描后还能保持最初的分辨率。Dimension XR系统将峰值力轻敲模式与极致稳定性、独特的探针技术和布鲁克数十年的针尖扫描创新经验相结合，在各种尺寸、重量或介质的样品上，在任何应用中都实现了稳定的最高分辨率成像。

峰值力扫描电化学显微镜

具有纳米级空间分辨率的峰值力轻敲扫描探针显微镜重新定义了液体中纳米尺度下电化学过程表征。峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜在数量级上显著改善了与传统方法的分辨率。这使得对能源存储系统、腐蚀科学和生物传感器的更全新研究，为单个纳米粒子、纳米相和纳米孔进行新测量打开了大门。只有峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜能同时形貌、电化学、电学和力学分布图，并具有纳米尺度的横向分辨率。