产品概述

 ORTEC高纯锗HPGe探测器制造已有近半世纪的历史，多年来不断发展和提升探测器的性能和种类，可提供不同种类的探测器，相对效率涵盖5%至200%，满足不同领域的特殊应用。

探测器：
GEM系列：P型同轴HPGe探测器
GMX系列：N型同轴HPGe探测器
GEM Profile系列：P型优化同轴HPGe探测器
GWL系列：井型HPGe探测器
SGD系列：核保障与无损分析专用HPGe探测器

多道分析器：
高的数据通过率：大于100Kcps
数字化稳谱、数字化自动极零、自动优化
用户可预置多个核素的MDA，在所有MDA满足时自动终止计数
道数：16K道
非线性：积分非线性：≤ ±0.025%；微分非线性：≤ ±1%
温度系数：增益:<35ppm/°C；零点:<3 ppm/°C

软件：
ORTEC的谱获取软件可识别并处理其所有形式和型号的MCA的信号，对于系统的一切参数设置在同一软件界面下完成；有非常灵活、完整的报告生成方式。
具体的功能包括能谱获取，能量刻度，全能峰识别，编辑核素峰库，建立、存储和打印感兴趣区(ROI)，通过简单的“任务流”自动执行任务等。软件可实现的参数设置包括：增益细调、启动数字化稳谱、调节高压、显示实时间/活时间和脉冲宽度、设置上下甄别阈等。

技术指标

l  晶体类型：井式高纯锗探测器，晶体体积大于120立方厘米，井直径15.5mm, 井深40mm；

l  能量分辨率FWHM：对122 keV峰（Co-57）：≤ 1.4keV；对1.332 MeV峰（Co-60）：≤ 2.3keV；

l  能量响应范围：10 keV – 10 MeV；

l  数据通过率：大于100kcps；

l  具有低频噪声抑制、自动优化、自动极零、零死时间校正和虚拟示波器等功能；

l  积分非线性：≤±0.025%；微分非线性：≤±1%；

l  数字化稳谱器：由计算机控制并稳定增益和零点；

l  温度系数：增益：≤35ppm/C ，零点：≤3 ppm/C；

l  脉冲抗堆积：自动设定域值，脉冲对分辨率为500 ns。