XF-S6贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属首饰成分和镀层检测的一款旗舰X射线荧光光谱仪，可广泛应用于珠宝首饰工厂以及回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制Fast-SDD探测器，内置四核工控电脑，采用X射线与可见光共焦点光路设计和全新的Smart FP算法。检测速度快，测试稳定性好、准确性高，适用范围广。

西凡贵金属检测仪XF-S6产品特点：

可支持最多30个元素同时计算

分析范围：0.005%～99.999%

检测精度：±0.01%(999金)

  相对误差：±1.5%(1微米厚度)

检测样品：贵金属合金/液体/首饰镀层

无需标样，可同时分析镀层厚度和镀材、基材成分。

定制TCP/IP协议API接口，支持外网对设备的控制、状态监控及数据采集

支持多点连续测试，测试效率高

双准直器，多滤光片自动切换

遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。