Contracex-100型光学轮廓仪在最佳价格点上为精确和可重复的非接触式表面计量设置了一个新的基准。小足迹系统提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能，在一个流线型封装，融合了几十年的专利布鲁克白光干涉测量(WLI)的创新。下一代增强包括一个新的5 MP相机和更新阶段的更大的缝纫能力，和一个新的测量模式，USI，为精密加工表面，厚膜和摩擦学应用更大的方便和灵活性。您将找不到一个比Contracex-100更有价值的桌面系统。

无与伦比的计量

Contracex-100型轮廓仪是40多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域的专有光学创新和行业领先地位的巅峰。该系统利用三维WLI和二维成像技术，在一次采集中进行多次分析。Contracx-100在所有表面情况下都是稳健的，反射率从0.05%到100%不等.

不匹配值与分析

有了数千个定制的分析和Bruker的简单而强大的VisionXpress™和VI 64用户界面，Contracex-100台式平台为实验室和工厂的生产力进行了优化。硬件和软件相结合，提供流线型的高通量光学性能，完全超过可比的计量技术。