波前传感器波前测试仪瞬渺科技（香港）有限公司

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波前传感器波前测试仪

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产品描述

Phasics生产及销售世界zei高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。

波前分析仪+波前测试仪+波前传感器剪切干涉仪
波前分析仪+波前测试仪+波前传感器剪切干涉仪
PHASICS波前探测器

Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。

1. 技术特点

◆高分辨率（高达300 x400个采样点)

◆消色差

◆高动态范围

◆高灵敏度

◆操作简便

◆设计简洁紧凑

◆高性价比

2.技术优势

◆高分辨率的相位图

能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，zei高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。

◆具有直接测量高发散光束的能力

我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。

SID4波前探测器

测试条件下光路系统

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